高低溫試驗箱的試驗方法與標準如何進行選擇   
   高低溫試驗箱通常被用來做高溫試驗、低溫試驗以及高低溫試驗的組合，其各種試驗的試驗方法與標準選擇一般以以下為準：

   高溫和低溫試驗是zui常見的一種環(huán)境試驗項目。低溫試驗對產品產生的影響主要使材料變成脆硬性，致使破損開裂，強度降低，潤滑作用減小，電子元器件性能引起變化等。高溫試驗對產品的影響主要表現在改變材料的物理性能和尺寸，不同的材料膨脹不一致使零件粘結，潤滑劑外流使?jié)櫥芰p失，電器元件過熱損壞，電子電路穩(wěn)定性改變等。如對帶有塑膠件的產品這二項試驗就很能夠暴露問題。

    高溫和低溫試驗試驗一般安排在一套試驗的早期，且為相信順序，這樣既能夠考核等高溫對的耐高溫和低溫能力也能夠達到耐溫變試驗的效果。高溫和低溫試驗依據國標GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法A：低溫試驗方法》和GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法B：高溫試驗方法》。有散熱樣品溫度漸變和非散熱樣品溫度漸變所做的規(guī)定來選擇，分為高溫工作和低溫工作試驗、高溫存儲和低溫存儲試驗，據實際樣品所屬是否散熱用工作和存儲兩種不同溫度點和產品狀態(tài)來進行合適的考量。高溫和低溫工作試驗的溫度嚴酷度一般低于存儲類溫度5～10℃。在實際檢測中*行工作試驗考核后再做關機狀態(tài)下存儲試驗，對于部分大電流、高發(fā)熱的電器產品，其高溫工作試驗可以代替高溫存儲試驗，因為其工作時溫度已經超出其存儲溫度極限，故只需進行高溫工作試驗即可。常見的高溫工作試驗溫度有：40℃、50℃，高溫存儲試驗溫度有：50℃、55℃，低溫工作試驗有：0℃、-10℃、-20℃，低溫存儲試驗溫度有：-20℃、-40℃，工作試驗時間2h～4h～8h，存儲試驗8h～16h～24h。通常高溫和低溫試驗能夠暴露出產品的缺陷如：外殼變形，電性能故障不能正常運行等，從而達到整改的目的。如產品高溫可靠性試驗也是高溫工作試驗一種。

    高低溫組合也是覺的試驗項目(推薦使用可程式高低溫試驗箱)，多用來更嚴酷地考核產品內外結構性能和電性能。

a)溫度沖擊試驗-溫度突變Na是目前常用來考核元器件和材料一種試驗。高低溫沖擊試驗是通過快速溫變來達到考核產品的目的，因為屬于非工作狀態(tài)高低溫沖擊試驗的指標上、下限多采用高、低溫存儲試驗的上、下限，可參照試驗樣品在高、低溫存儲試驗中獲得的的溫度響應特性等信息。    b)溫度變化試驗-溫度漸變Nb常用來考核整機試驗。在試驗中產品按要求可處于工作狀態(tài)，因此溫度變化試驗的上、下限往往使用高、低溫工作試驗的上、下限。這二項試驗參照的標準有GB/T 2423.22-2002《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》等，根據實際要求選擇高溫點和低溫點，滯留時間，溫變速率，循環(huán)次數定試驗等級。